“Advanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale”

Aktivität: Gespräch oder VortragMitwirkung als Gastredner/-in

Beschreibung

Seminar, Institute of Applied Physics, Abbe Center of Photonics Friedrich-Schiller-Universität Jena, Germany (Nov. 13)
“Advanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale”
Zeitraum13 Nov. 2017
EreignistitelAdvanced AFM based electrical characterization on the nanometer scale
VeranstaltungstypSeminar
OrtJena, DeutschlandAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational