Advanced AFM based mechanical and electrical characterization of nanostructured materials in controlled environment

Aktivität: Sonstige › Externes akademisches Engagement - Vortrag auf Einladung (auch auf Konferenzen)

Beschreibung

Invited Talk

Zeitraum	10 März 2016
Ereignistitel	DPG-Frühjahrstagung, Regensburg, March 6-11, 2016: Symposium “In-situ Microscopy with Electrons, X-Rays and Scanning Probes in Materials Science”
Veranstaltungstyp	Konferenz
Ort	Regensburg, DeutschlandAuf Karte anzeigen