ADVANTAGES AND LIMITATIONS OF X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETRY FOR THE QUANTIFICATION OF CRITICAL RAW MATERIALS IN ELECTRONIC WASTE BY RECYCLING INDUSTRIES
- Lancaster, S. (Redner)
- Rachetti, A. (Beitragende/r)
- Melissa Eberhard (Beitragende/r)
- Laura Feiner (Beitragende/r)
- Irrgeher, J. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation