APT, XRD, and EBSD meet nanoindentation: multiphysical characterization of white etching layers in pearlitic rails
- Glushko, O. (Redner)
- Srikakulapu, K. (Beitragende/r)
- Christoph Kammerhofer (Beitragende/r)
- Todt, J. (Beitragende/r)
- Jelinek, A. (Beitragende/r)
- Keckes, J. (Beitragende/r)
- Schnitzer, R. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation