Atomic force microscopy based electrical characterization of multiphase intermetallic TiAl alloys

  • Kratzer, M. (Redner)
  • Huszar, M. (Beitragende/r)
  • Lisa Maria Tengg (Beitragende/r)
  • Helmut Clemens (Beitragende/r)
  • Svea Mayer (Redner)
  • Christian Teichert (Beitragende/r)

Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Zeitraum31 März 20195 Apr. 2019
EreignistitelDPG Tagung
VeranstaltungstypKonferenz
BekanntheitsgradInternational

Schlagwörter

  • TiAl, C-AFM, KPFM