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Atomic force microscopy based electrical characterization of multiphase intermetallic TiAl alloys
Kratzer, M.
(Redner)
Huszar, M.
(Beitragende/r)
Lisa Maria Tengg (Beitragende/r)
Helmut Clemens (Beitragende/r)
Svea Mayer (Redner)
Christian Teichert (Beitragende/r)
Lehrstuhl für Physik (460)
Lehrstuhl für Metallkunde (420)
Aktivität
:
Gespräch oder Vortrag
›
Mündliche Präsentation
Zeitraum
31 März 2019
→
5 Apr. 2019
Ereignistitel
DPG Tagung
Veranstaltungstyp
Konferenz
Bekanntheitsgrad
International
Schlagwörter
TiAl, C-AFM, KPFM
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