Zur Hauptnavigation wechseln Zur Suche wechseln Zum Hauptinhalt wechseln

Atomic force microscopy based materials’ characterization on the nanometer scale

  • Christian Teichert (Gastredner)

Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in

Zeitraum9 Juli 2018 → 16 Juli 2018
Ereignistitel3rd International Summer School on Physical and Chemical Principles in Materials Science
VeranstaltungstypKonferenz
OrtNanjing, ChinaAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational