Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning
- Holub, G. (Redner)
- Sebastian Hofer (Beitragende/r)
- Thomas Obermüller (Beitragende/r)
- Romaner, L. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation