Cross-sectional stress and microstructure evolution in thin films evaluated by X-ray nanodiffraction
- Meindlhumer, M. (Redner)
- Todt, J. (Beitragende/r)
- Manfred C. Burghammer (Beitragende/r)
- Martin Rosenthal (Beitragende/r)
- Mitterer, C. (Beitragende/r)
- Daniel, R. (Beitragende/r)
- Keckes, J. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation