Electrical characterization of semiconductor nanostructutes by Kelvin Probe Force Microscopy and Conductive Atomic Force Microscopy

  • Christian Teichert (Gastredner)

Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in

Zeitraum24 Apr. 2018 → 30 Apr. 2018
Ereignistitel5th International Congress on Microscopy and Spectroscopy
VeranstaltungstypKonferenz
OrtFethiye, TürkeiAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational