Fatigue crack growth behavior of a nanocrystalline HPT-deformed Ti-45Nb
- Simon Pillmeier (Redner)
- Reinhard Pippan (Beitragende/r)
- Eckert, J. (Beitragende/r)
- Hohenwarter, A. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation
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