Hidden beneath microstructural constraints: Revealing the displacive nature of grain boundary migration using electron and atomic force microscopy
- Tang, J. (Redner)
- Kratzer, M. (Beitragende/r)
- Karl Christian Teichert (Beitragende/r)
- Renk, O. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation