High throughput fracture testing using two-photon lithography
- Kiener, D. (Redner)
- Alexander Jelinek (Beitragende/r)
- Alfreider, M. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mitwirkung als Gastredner/-in