Identifying fingerprints of point defects in X-ray photoelectron spectroscopy measurements of TiN and TiON with ab initio calculations

  • Pavel Ondračka (Redner)
  • Holec, D. (Beitragende/r)
  • Marcus Hans (Beitragende/r)
  • Jochen M. Schneider (Beitragende/r)

Aktivität: Gespräch oder VortragMündliche Präsentation

Zeitraum26 Apr. 202130 Apr. 2021
EreignistitelICMCTF 2021
VeranstaltungstypKonferenz