In situ Transmission Scanning Electron Microscopy as a Tool to Resolve Interface Related Deformation and Fracture in Multilayered Components
- Alfreider, M. (Redner)
- Glenn Balbus (Beitragende/r)
- Fulin Wang (Beitragende/r)
- Daniel S. Gianola (Beitragende/r)
- Kiener, D. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation