Lock-in inductive thermography for surface crack detection

Aktivität: Gespräch oder VortragMitwirkung als Gastredner/-in

Zeitraum15 Apr. 201819 Apr. 2018
EreignistitelThermosense: Thermal Infrared Applications XL 2018
VeranstaltungstypKonferenz
SponsorThe Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE)
OrtOrlando, USA / Vereinigte StaatenAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational