Microstructure and residual stress gradients in AlCrSiN thin films revealed by X-ray nanodiffraction: Precipitation-induced crack arrest at sublayer interfaces
- Kutlesa, K. (Redner)
- Meindlhumer, M. (Beitragende/r)
- Alice Lassnig (Beitragende/r)
- Daniel, R. (Beitragende/r)
- Tkadletz, M. (Beitragende/r)
- Asma Aicha Medjahed (Beitragende/r)
- Keckes, J. (Beitragende/r)
Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Mündliche Präsentation