Opportunities and challenges of compositional characterization with nanoscale spatial resolution using atom probe tomography

  • Marcus Hans (Redner)
  • Daniel Primetzhofer (Beitragende/r)
  • Tkadletz, M. (Beitragende/r)
  • Philipp Keuter (Beitragende/r)
  • Aparna Saksena (Beitragende/r)
  • J. Sälker (Beitragende/r)
  • Markus Momma (Beitragende/r)
  • Hauke Springer (Beitragende/r)
  • Jakub Nowak (Beitragende/r)
  • Daniela Zander (Beitragende/r)
  • Helene Waldl (Beitragende/r)
  • Schiester, M. (Beitragende/r)
  • Bartosik, M. (Beitragende/r)
  • Christoph Czettl (Beitragende/r)
  • Schalk, N. (Beitragende/r)
  • Mitterer, C. (Beitragende/r)
  • Jochen M. Schneider (Beitragende/r)

Aktivität: Gespräch oder VortragMitwirkung als Gastredner/-in

Zeitraum4 Sept. 2024
EreignistitelInternational Conference on Plasma Surface Engineering
VeranstaltungstypKonferenz
OrtErfurt, DeutschlandAuf Karte anzeigen