Spatially resolved depth profiling of residual stress by micro-ring-core method

  • M. Sebastiani (Redner)
  • Z.M. Mughal (Beitragende/r)
  • A.M. Korsunsky (Beitragende/r)
  • E. Salvati (Beitragende/r)
  • T. Sui (Beitragende/r)
  • A.G.J. Lunt (Beitragende/r)
  • Daniel, R. (Beitragende/r)
  • Keckes, J. (Beitragende/r)

Aktivität: Gespräch oder VortragMitwirkung als Gastredner/-in

Zeitraum4 Okt. 2017
EreignistitelNanomechanical Testing in Materials Research and Development VI
VeranstaltungstypKonferenz
OrtDubrovnik, KroatienAuf Karte anzeigen