The 84th IUVSTA Workshop Surface Micro-Spectroscopy and Spectro- Microscopy of Electrical Phenomena: Advanced Methodologies for Nano-Characterization of Electronic Surface Phenomena, September 2-5, 2018, Weizmann Institute of Science, Rehovot, Israel

  • Christian Teichert (Redner/-in)

Aktivität: Teilnahme an oder Organisation einer Veranstaltung › Konferenzteilnahme

Beschreibung

Light-assisted charge spreading and charge trapping in 1D organic semiconductor nanocrystals on 2D materials probed by AFM based techniques
Zeitraum2 Sept. 2018 → 4 Sept. 2018
VeranstaltungstypKonferenz
OrtRehovot, IsraelAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational

Dokumente & Verweise