The Use of LOM, SEM, FIB, TEM and APT to Clarify the Sequences of Failure of Hot Dip Galvanized Structural Steels

  • Panzenböck, M. (Redner)
  • Caroline Freitag (Beitragende/r)
  • Gerhard Hawranek (Beitragende/r)
  • Francisca Mendez Martin (Beitragende/r)
  • Rashkova, B. (Beitragende/r)
  • Patric Schütz (Beitragende/r)
  • K. Spiradek-Hahn (Beitragende/r)

Aktivität: Gespräch oder VortragMitwirkung als Gastredner/-in

Zeitraum6 Aug. 201710 Aug. 2017
EreignistitelMicroscopy and Microanalysis
VeranstaltungstypKonferenz
OrtSt. Louis, USA / Vereinigte StaatenAuf Karte anzeigen
BekanntheitsgradInternational