Karl Christian Teichert

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• 199 Artikel
• 164 Poster
• 61 Forschungsbericht
• 35 Beitrag in Konferenzband
• 47 Mehr
  • 19 Beitrag in Buch/Sammelband
  • 17 Vortrag
  • 5 Sammelband
  • 2 Kurzer Abriss
  • 2 Patentschrift
  • 1 Entscheidungsbesprechung
  • 1 Übersichtsartikel

Publikationen pro Jahr

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Suchergebnisse

• 2017

  AFM based nanoindentation of cellulosic fibers

  Ganser, C. & Teichert, C., 2017, Applied Nanoindentation of Advanced Materials. Tiwari, A. & Natarajan, S. (Hrsg.). Chichester: Wiley-VCH , S. 247-267

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• 2013

  Ehrlich-Schwoebel Barriers and Island Nucleation in Organic Thin-Film Growth

  Titel in Übersetzung: Ehrlich-Schwoebel Barriers and Island Nucleation in Organic Thin-Film GrowthTeichert, C., Hlawacek, G., Winkler, A., Puschnig, P. & Draxl, C., 2013, Small Organic Molecules on Surfaces Fundamentals and Applications. S. 79-105

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• In-situ Observation of Organic Thin Film Growth on Graphene

  Titel in Übersetzung: In-situ Observation of Organic Thin Film Growth on GrapheneHlawacek, G., Khokhar, F. S., van Gastel, R., Poelsema, B., Zandvliet, H. J. W. & Teichert, C., 2013, Small Organic Molecules on Surfaces Fundamentals and Applications. S. 107-139

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• 2012

  Biomimetik design for cell-contacting surfaces-The topographical influences on cell-biomaterial interaction and plasma-based fabrication methods for self-adapted nanostructures

  Titel in Übersetzung: Biomimetik design for cell-contacting surfaces-The topographical influences on cell-biomaterial interaction and plasma-based fabrication methods for self-adapted nanostructuresLackner, J. M., Waldhauser, W., Schmied, F., Teichert, C., Keckes, J. & Kreith, J., 2012, Nanostructural materials for implants and cardiovascular biomedical devices. S. 33-66

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• 2011

  Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics

  Titel in Übersetzung: Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in MicroelectronicsTeichert, C. & Beinik, I., 2011, Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2. S. 691-721

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• 2010

  Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie

  Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 72-74

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• Magnetkraftmikroskopie

  Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 75-77

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• Morphologie-Analyse selbstorganisierter Halbleiter-Nanostrukturen

  Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 226-228

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• Quantum Size Effects in Multilayer Si-Ge Epitaxial Heterostructures

  Titel in Übersetzung: Quantum Size Effects in Multilayer Si-Ge Epitaxial HeterostructuresKozyrev, Y. N., Kondratenko, S. V., Rubezhanska, M. Y., Lysenko, V. S., Sushyi, A. V., Teichert, C. & Hofer, C., 2010, Nanomaterials and Supramolecular Structures- Physics Chemistry and Applications, Part 3. S. 235-245

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• Rasterkraftmikroskopie (AFM)

  Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 105-106

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• Reibungskraftmikroskopie

  Teichert, C., 2010, Handbuch der Nanoanalytik Steiermark 2010. S. 116-117

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• 2009

  Rubrene on mica: from the early growth stage to late crystallization

  Titel in Übersetzung: Rubrene on mica: from the early growth stage to late crystallizationHlawacek, G., Adb al-Baqi, S., He, X., Sitter, H. & Teichert, C., 2009, Interface Controlled Organic Thin Films. Springer, S. 55-60 (Springer Proceedings in Physics; Band 129).

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• 2008

  Fabrication and Characterization of Self-Organized Nanostructured Organic Thin Films and Devices

  Titel in Übersetzung: Fabrication and Characterization of Self-Organized Nanostructured Organic Thin Films and DevicesAndreev, A., Teichert, C., Singh, B. & Sariciftci, N. S., 2008, Organic Nanostructures for Next Generation Devices. S. 263-300

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• Fundamentals of Organic Film Growth and Characterization

  Titel in Übersetzung: Fundamentals of Organic Film Growth and CharacterizationSitter, H., Resel, R., Koller, G., Ramsey, M. G., Andreev, A. & Teichert, C., 2008, Organic Nanostructures for Next Generation Devices. S. 3-19

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• 2007

  Routes toward lateral self-organization of quantum dots: the model system SiGe on Si(001)

  Titel in Übersetzung: Routes toward lateral self-organization of quantum dots: the model system SiGe on Si(001)Teichert, C. & Lagally, M. G., 2007, Lateral Aligment of Epitaxial Quantum Dots. S. 49-76

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• 2005

  Das Institut für Physik, Montanuniversität Leoben

  Teichert, C. & Kuchar, F., 2005, Handbuch der Nanoanalytik, Steiermark. S. 253-254

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• Leitfähigkeits-Rasterkraftmikroskopie (C-AFM)

  Teichert, C. & Kremmer, S., 2005, Handbuch der Nanoanalytik. S. 50-51

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• Morphologie-Analyse von Halbleiter-Nanostrukturen

  Teichert, C., 2005, Handbuch der Nanoanalytik, Steiermark. S. 182-183

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• Rasterkraftmikroskopie (AFM)

  Teichert, C., 2005, Handbuch der Nanoanalytik, Steiermark. S. 73-74

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