A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

Titel in Übersetzung: A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings

Angelika Riedl, Rostislav Daniel, J. Todt, M. Steffenelli, David Holec, B. Sartory, C. Krywka, M. Müller, Christian Mitterer, Jozef Keckes

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

9 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungA combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)108-113
FachzeitschriftSurface & coatings technology
Jahrgang257
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014

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