A novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction

Titel in Übersetzung: A novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction

Katharina Babinsky, R. De Kloe, Helmut Clemens, Sophie Primig

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

80 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungA novel approach for site-specific atom probe specimen preparation by focused ion beam and transmission electron backscatter diffraction
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)9-18
FachzeitschriftUltramicroscopy
Jahrgang144
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014

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