A versatile atomic force microscope integrated with a scanning electron microscope

Erich-Schmid-Institut für Materialwissenschaft der Österreichischen Akademie der Wissenschaften
GETec Microscopy GmbH, Vienna
Laboratoray for Bio- and Nano-Instrumentation, EPFL

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung

16 Zitate (Scopus)

Originalsprache	Englisch
Aufsatznummer	053704
Fachzeitschrift	Review of scientific instruments
Jahrgang	88.2017
Ausgabenummer	5
DOIs	https://doi.org/10.1063/1.4983317
Publikationsstatus	Elektronische Veröffentlichung vor Drucklegung. - 17 Mai 2017

Zugriff auf Dokument

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TY - JOUR

T1 - A versatile atomic force microscope integrated with a scanning electron microscope

AU - Kreith, Joseph

AU - Strunz, T.

AU - Fantner, E.J.

AU - Fantner, G.E.

AU - Cordill, Megan

PY - 2017/5/17

Y1 - 2017/5/17

U2 - 10.1063/1.4983317

DO - 10.1063/1.4983317

M3 - Article

SN - 0034-6748

VL - 88.2017

JO - Review of scientific instruments

JF - Review of scientific instruments

IS - 5

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ER -