Addressing Fracture Properties of Individual Constituents Within a Cu-WTi-SiOx-Si Multilayer

Markus Alfreider, Johannes Zechner, Daniel Kiener

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

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OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)4551-4558
Seitenumfang8
FachzeitschriftJOM
Jahrgang72.2020
Ausgabenummer12
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 10 Nov. 2020

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