Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy

Titel in Übersetzung: Advanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy

Zaoli Zhang, Rostislav Daniel, Gerhard Dehm, Christian Mitterer

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungAdvanced characterisation of the Cu-MgO interface structure by Cs-corrected high-resolution transmission electron microscopy
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungMicroscopy Conference (MC2011) - Kiel, Deutschland
Dauer: 28 Aug. 20112 Sept. 2011

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference (MC2011)
Land/GebietDeutschland
OrtKiel
Zeitraum28/08/112/09/11

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