AFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2

Markus Kratzer, Stefan Klima, Igor Beinik, Quan Shen, Alois Lugstein, Christian Teichert

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungAFM based morphological and electrical characterization of hot wall epitaxy grown 6P/SiO2
OriginalspracheDeutsch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
Veranstaltung60. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Salzburg, Österreich
Dauer: 6 Sept. 201010 Sept. 2010

Konferenz

Konferenz60. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
KurztitelÖPG 2010
Land/GebietÖsterreich
OrtSalzburg
Zeitraum6/09/1010/09/10

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