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AFM-investigations of AlGaAs/GaAsMultilayer structures under Inert and reactive media by Atomic Force Microscopy

  • Thomas Prohaska
  • , Gernot Friedbacher
  • , Manfred Grasserbauer
  • , Heinrich Nickel
  • , Rainer Lösch
  • , Winfried Schlapp
  • Technische Universität Wien
  • DBP-Telekom-FTZ

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1530-1535
Seitenumfang6
FachzeitschriftAnalytical chemistry
Jahrgang67.1995
Ausgabenummer9
PublikationsstatusVeröffentlicht - 9 Mai 1995
Extern publiziertJa

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