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Annealing of intrinsic stresses in sputtered TiN films: The role of thickness-dependent gradients of point defect density

Titel in Übersetzung: Annealing of intrinsic stresses in sputtered TiN films: The role of thickness-dependent gradients of point defect density

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

59 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungAnnealing of intrinsic stresses in sputtered TiN films: The role of thickness-dependent gradients of point defect density
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)4777-4780
FachzeitschriftSurface & coatings technology
Jahrgang201
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2007

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