Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM

Titel in Übersetzung: Atomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM

Zaoli Zhang, Rostislav Daniel, Christian Mitterer

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in ÜbersetzungAtomic and electronic characterization on the CrN/Cr/Si interfaces using CS-corrected HRTEM
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungMicroscopy Conference (MC2011) - Kiel, Deutschland
Dauer: 28 Aug. 2011 → 2 Sept. 2011

Konferenz

KonferenzMicroscopy Conference (MC2011)
Land/GebietDeutschland
OrtKiel
Zeitraum28/08/11 → 2/09/11

Dieses zitieren