Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing

Titel in Übersetzung: Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing

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13 Zitate (Scopus)

Titel in Übersetzung	Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing
Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	857-864
Fachzeitschrift	Chemie-Ingenieur-Technik
Jahrgang	86
DOIs	https://doi.org/10.1002/cite.201400027
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2014

Zugriff auf Dokument

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TY - JOUR

T1 - Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing

AU - Mirkowska, Monika

AU - Kratzer, Markus

AU - Teichert, Christian

AU - Flachberger, Helmut

PY - 2014

Y1 - 2014

U2 - 10.1002/cite.201400027

DO - 10.1002/cite.201400027

M3 - Article

SN - 0009-286X

VL - 86

SP - 857

EP - 864

JO - Chemie-Ingenieur-Technik

JF - Chemie-Ingenieur-Technik

ER -