Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing

Titel in Übersetzung: Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing

Monika Mirkowska, Markus Kratzer, Christian Teichert, Helmut Flachberger

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung

13 Zitate (Scopus)

Titel in Übersetzung	Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing
Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	857-864
Fachzeitschrift	Chemie-Ingenieur-Technik
Jahrgang	86
DOIs	https://doi.org/10.1002/cite.201400027
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2014

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@article{e230aab0c3564e86a5ff94bb20b50360,

title = "Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing",

author = "Monika Mirkowska and Markus Kratzer and Christian Teichert and Helmut Flachberger",

year = "2014",

doi = "10.1002/cite.201400027",

language = "English",

volume = "86",

pages = "857--864",

journal = "Chemie-Ingenieur-Technik",

issn = "0009-286X",

publisher = "John Wiley & Sons, USA",

}

TY - JOUR

T1 - Atomic Force Microscopy as a Tool to Explore Triboelectrostatic Phenomena in Mineral Processing

AU - Mirkowska, Monika

AU - Kratzer, Markus

AU - Teichert, Christian

AU - Flachberger, Helmut

PY - 2014

Y1 - 2014

U2 - 10.1002/cite.201400027

DO - 10.1002/cite.201400027

M3 - Article

SN - 0009-286X

VL - 86

SP - 857

EP - 864

JO - Chemie-Ingenieur-Technik

JF - Chemie-Ingenieur-Technik

ER -