Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems

Titel in Übersetzung: Atomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

Titel in ÜbersetzungAtomic force microscopy as metrology tool for identificationof phases in two- or multi-component polymer systems
OriginalspracheEnglisch
Titel10th Austrian Polymer Meeting and 2nd Joint Austrian-Slovenian Polymer Meeting
Seiten64-67
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010

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