Auger and X-ray photoelectron spectroscopy on lithiated HOPG

Michael J. Hoffmann; Stefan Oswald; M. Zier; Jürgen Eckert

doi:10.1002/sia.6008

Auger and X-ray photoelectron spectroscopy on lithiated HOPG

Michael J. Hoffmann, Stefan Oswald, M. Zier, Jürgen Eckert

Lehrstuhl für Materialphysik (430)

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Artikel › Forschung › Begutachtung

1 Zitat (Scopus)

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	501-504
Seitenumfang	4
Fachzeitschrift	Surface and interface analysis
Jahrgang	48.2016
Ausgabenummer	7
DOIs	https://doi.org/10.1002/sia.6008
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 8 Apr. 2016

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10.1002/sia.6008

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TY - JOUR

T1 - Auger and X-ray photoelectron spectroscopy on lithiated HOPG

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PY - 2016/4/8

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M3 - Article

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JO - Surface and interface analysis

JF - Surface and interface analysis

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