Automatic detection of defects in KOH etch images of SiC single crystals using instance segmentation

Georg Holub, Sebastian Hofer, T. Obermüller, Lorenz Romaner

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung

OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2023
VeranstaltungAIMSE 2023 - Saarbrücken, Deutschland
Dauer: 22 Nov. 2023 → 23 Nov. 2023

Konferenz

KonferenzAIMSE 2023
Land/GebietDeutschland
OrtSaarbrücken
Zeitraum22/11/23 → 23/11/23

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