Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning

Georg Holub, Sebastian Hofer, Thomas Obermüller, Lorenz Romaner

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2024
Veranstaltung	International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024) - North Carolina, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 29 Sept. 2024 → 4 Okt. 2024

Konferenz	International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024)
Land/Gebiet	USA / Vereinigte Staaten
Ort	North Carolina
Zeitraum	29/09/24 → 4/10/24

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Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning. / Holub, Georg; Hofer, Sebastian; Obermüller, Thomas et al.
2024. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024), North Carolina, USA / Vereinigte Staaten.

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung