Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2024
Veranstaltung	International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024) - North Carolina, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 29 Sept. 2024 → 4 Okt. 2024

Konferenz	International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024)
Land/Gebiet	USA / Vereinigte Staaten
Ort	North Carolina
Zeitraum	29/09/24 → 4/10/24

Dieses zitieren

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title = "Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning",

author = "Georg Holub and Sebastian Hofer and Thomas Oberm{\"u}ller and Lorenz Romaner",

year = "2024",

language = "English",

note = "International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024) ; Conference date: 29-09-2024 Through 04-10-2024",

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Automatic etch pit detection and characterization in KOH etch images of 4H-SiC using deep learning. / Holub, Georg; Hofer, Sebastian; Obermüller, Thomas et al.
2024. Postersitzung präsentiert bei International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2024), North Carolina, USA / Vereinigte Staaten.

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung