Ballistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals

Titel in Übersetzung: Ballistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals

Pilar F. De Pablos, Petro L. De Andres, F. Ladstädter, U. Hohenester, Peter Puschnig, Claudia Draxl, Francisco J. Garcia-Vidal, Fernando Flores

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

    Titel in ÜbersetzungBallistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals
    OriginalspracheEnglisch
    TitelScanning tunnelling microscopy/spectroscopy and related techniques
    Untertitel12th International Conference STM'03
    Herausgeber (Verlag) AIP Publishing
    Seiten829
    Seitenumfang836
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003

    Publikationsreihe

    NameAIP Conference Proceedings
    Band696
    ISSN (Print)0094-243X
    ISSN (elektronisch)1551-7616

    Dieses zitieren