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Ballistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals

Titel in Übersetzung: Ballistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals
  • Pilar F. De Pablos
  • , Petro L. De Andres
  • , F. Ladstädter
  • , U. Hohenester
  • , Peter Puschnig
  • , Claudia Draxl
  • , Francisco J. Garcia-Vidal
  • , Fernando Flores

    Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/KonferenzbandBeitrag in Konferenzband

    Titel in ÜbersetzungBallistic Electron Emission Spectroscopy Used as a Tool for Determining Accurate Hot-Electron Lifetimes in Metals
    OriginalspracheEnglisch
    TitelScanning tunnelling microscopy/spectroscopy and related techniques
    Untertitel12th International Conference STM'03
    Herausgeber (Verlag) AIP Publishing
    Seiten829
    Seitenumfang836
    DOIs
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003

    Publikationsreihe

    NameAIP Conference Proceedings
    Band696
    ISSN (Print)0094-243X
    ISSN (elektronisch)1551-7616

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