| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 59-65 |
| Seitenumfang | 7 |
| Fachzeitschrift | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Jahrgang | 5011 |
| DOIs | |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1 Jan. 2003 |
| Veranstaltung | Machine Vision Applications in Industrial Inspection XI - Santa Clara, CA, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 22 Jan. 2003 → 24 Jan. 2003 |
Dieses zitieren
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver