Zur Hauptnavigation wechseln Zur Suche wechseln Zum Hauptinhalt wechseln

Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy

Titel in Übersetzung: Characterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy
  • G. Brauer
  • , W. Anwand
  • , W. Skorupa
  • , S. Brandstetter
  • , Christian Teichert

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

10 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungCharacterization of 6H-SiC surfaces after ion implantation and annealing using positron annihilation spectroscopy and atomic force microscopy
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)023523-1-023523-8
FachzeitschriftJournal of applied physics
Jahrgang99
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006

Dieses zitieren