Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications

Titel in Übersetzung: Characterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications

B. Galiana, I. Rey-Stolle, Igor Beinik, Christian Teichert, C. Algora, J. M. Molina-Aldareguia, P. Tejedor

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelForschungBegutachtung

12 Zitate (Scopus)
Titel in ÜbersetzungCharacterization of antiphase domains on GaAs grown on Ge substrates by conductive atomic force microscopy for photovoltaic applications
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1949-1954
FachzeitschriftSolar energy materials and solar cells
Jahrgang95
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011

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