Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy

Titel in Übersetzung: Characterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy

Christian Teichert

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in ÜbersetzungCharacterization of single ZnO nanorods by conductive atomic microscopy
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
VeranstaltungInternational Symposium Piezoresponse Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials - Aeiro, Portugal
Dauer: 23 Juni 2009 → 27 Juni 2009

Konferenz

KonferenzInternational Symposium Piezoresponse Microscopy and Nanoscale Phenomena in Polar Materials
OrtAeiro, Portugal
Zeitraum23/06/09 → 27/06/09

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