Characterization of the Deformation Behavior of gamma-TiAl Based Alloys by In-situ X-ray Diffraction

Titel in Übersetzung: Characterization of the Deformation Behavior of gamma-TiAl Based Alloys by In-situ X-ray Diffraction

Thomas Schmölzer, Klaus-Dieter Liss, Martin Rester, Kun Yan, Matthew Peel, Helmut Clemens

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungCharacterization of the Deformation Behavior of gamma-TiAl Based Alloys by In-situ X-ray Diffraction
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungMRS 2010 - Boston, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 29 Nov. 20103 Dez. 2010

Konferenz

KonferenzMRS 2010
Land/GebietUSA / Vereinigte Staaten
OrtBoston
Zeitraum29/11/103/12/10

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