Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS

Titel in Übersetzung: Comparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS

Zaoli Zhang, Rostislav Daniel, Christian Mitterer

    Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

    Titel in ÜbersetzungComparative studies of the CrN-Cr-Si an d CrN-Si interfaces by Cs-corrected HRTEM and STEM-EELS
    OriginalspracheEnglisch
    PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
    Veranstaltung10th Multinational Congress on Microscopy 2011 - Urbino, Italien
    Dauer: 4 Sept. 2011 → 9 Sept. 2011

    Konferenz

    Konferenz10th Multinational Congress on Microscopy 2011
    Land/GebietItalien
    OrtUrbino
    Zeitraum4/09/11 → 9/09/11

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