| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 108-115 |
| Seitenumfang | 8 |
| Fachzeitschrift | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering |
| Jahrgang | 5303 |
| DOIs | |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 1 Dez. 2004 |
| Veranstaltung | Machine Vision Applications in Industrial Inspection XII - San Jose, CA, USA / Vereinigte Staaten Dauer: 21 Jan. 2004 → 22 Jan. 2004 |
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