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Comparison of CMOS and CCD cameras for laser profiling

  • Norbert Koller
  • , Paul O'Leary
  • , Peter Lee

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzartikelBegutachtung

4 Zitate (Scopus)
OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)108-115
Seitenumfang8
FachzeitschriftProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Jahrgang5303
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez. 2004
VeranstaltungMachine Vision Applications in Industrial Inspection XII - San Jose, CA, USA / Vereinigte Staaten
Dauer: 21 Jan. 200422 Jan. 2004

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