Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration

Titel in Übersetzung: Complementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration

Igor Beinik, B. Galiana, Markus Kratzer, I. Rey-Stolle, C. Algora, Paloma Tejedor, Christian Teichert

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungComplementary electrical characterization of arrowhead defects in GaInP thin films grown on Ge: KPFM and C-AFM exploration
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
Veranstaltung16th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics: Low Dimensional Systems "Mauterndorf 2010" - Mauterndorf, Österreich
Dauer: 22 Feb. 201026 Feb. 2010

Konferenz

Konferenz16th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics: Low Dimensional Systems "Mauterndorf 2010"
Land/GebietÖsterreich
OrtMauterndorf
Zeitraum22/02/1026/02/10

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