Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics

Titel in Übersetzung: Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics

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16 Zitate (Scopus)

Titel in Übersetzung	Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics
Originalsprache	Englisch
Titel	Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 2
Seiten	691-721
DOIs	https://doi.org/10.1007/978-3-642-10497-8_23
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2011

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author = "Christian Teichert and Igor Beinik",

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