Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

Titel in Übersetzung: Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

A. Pavitschitz, I. Beinik, M. Kratzer, Christian Teichert, G. Schwabegger, H. Sitter, C. Simbrunner, Thomas Grießer, Wolfgang Kern

Publikation: KonferenzbeitragPosterForschungBegutachtung

Titel in ÜbersetzungConductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2009
Veranstaltung59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Innsbruck, Austria
Dauer: 2 Sept. 20094 Sept. 2009

Konferenz

Konferenz59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
OrtInnsbruck, Austria
Zeitraum2/09/094/09/09

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