Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

A. Pavitschitz; I. Beinik; M. Kratzer; Christian Teichert; G. Schwabegger; H. Sitter; C. Simbrunner; Thomas Grießer; Wolfgang Kern

Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

Titel in Übersetzung: Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

A. Pavitschitz
, I. Beinik
, M. Kratzer
, Christian Teichert
, G. Schwabegger
, H. Sitter
, C. Simbrunner
, Thomas Grießer
, Wolfgang Kern

Publikation: Konferenzbeitrag › Poster › Forschung › Begutachtung

Titel in Übersetzung	Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films
Originalsprache	Englisch
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2009
Veranstaltung	59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft - Innsbruck, Austria Dauer: 2 Sept. 2009 → 4 Sept. 2009

Konferenz

Konferenz	59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft
Ort	Innsbruck, Austria
Zeitraum	2/09/09 → 4/09/09

Dieses zitieren

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TY - CONF

T1 - Conductive Atomic Force Microscopy investigations of organic thin films

AU - Pavitschitz, A.

AU - Beinik, I.

AU - Kratzer, M.

AU - Teichert, Christian

AU - Schwabegger, G.

AU - Sitter, H.

AU - Simbrunner, C.

AU - Grießer, Thomas

AU - Kern, Wolfgang

PY - 2009

Y1 - 2009

M3 - Poster

T2 - 59. Jahrestagung der Österreichischen Physikalischen Gesellschaft

Y2 - 2 September 2009 through 4 September 2009

ER -